Observação direta e estudo da difração bragg paralela à superfície de monocristais

TL;DRAbstract

Neste trabalho foi desenvolvida uma nova geometria de espalhamento que permite a observacao direta do feixe de raios-X, difratado paralelamente a superficie do cristal. Esta geometria e uma modificacao da geometria usual de Renninger para a producao sistematica da difracao multipla. Enquanto que na geometria de Renninger o plano de incidencia primario coincide com o plano do difratometro, na geometria proposta, e o plano de incidencia secundario que fica no plano do difratometro. O estudo geometrico feito no espaco reciproco, para a ocorrencia da difracao paralela a superficie, fornece a regra de selecao para os indices de Miller, em cristais cubicos, nas seguintes orientacoes da superficie de corte: [100], [110], e [111]. Para o estudo da distribuicao de intensidade foram selecionados dois cristais de silicio livre de deslocacoes, Si [100] e Si [111], com cerca de 1 cm de diâmetro na superficie. Foram realizadas experiencias de seccao topografica para o feixe difratado paralelamen

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