Desenvolvimento de um sistema de aquisição de dados e de controle para a realização de ensaios de emissão eletrônica na câmara de ultra alto vácuo
TL;DRAbstract
Foi projetado e desenvolvido um sistema de aquisicao de dados e controle para viabilizar, de forma automatizada, a caracterizacao de emissividade eletronica em catodos frios, por meio da utilizacao da câmara de ultra alto vacuo do Departamento de Semicondutores, Instrumentacao e Fotonica - DSIF, da Faculdade de Engenharia Eletrica e Computacao - FEEC/Unicamp. A instrumentacao desenvolvida teve como motivacao: i) aumentar a confiabilidade dos procedimentos de leitura da corrente de emissao de campo em amostras de materiais nanoestruturados produzidos no laboratorio; ii) garantir a reprodutibilidade dos ensaios; iii) preservar a integridade das amostras; iv) eliminar fontes de erro existentes no processo de aquisicao dos dados; v) prover uma familia de curvas de forma automatizada, para cada posicionamento da amostra analisada. Os principais desafios encontrados durante os trabalhos relacionaram-se com a definicao da topologia do circuito de entrada, da forma da isolacao galvânica, inter
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Foi projetado e desenvolvido um sistema de aquisicao de dados e controle para viabilizar, de forma automatizada, a caracterizacao de emissividade eletronica em catodos frios, por meio da utilizacao da câmara de ultra alto vacuo do Departamento de Semicondutores, Instrumentacao e Fotonica - DSIF, da Faculdade de Engenharia Eletrica e Computacao - FEEC/Unicamp. A instrumentacao desenvolvida teve como motivacao: i) aumentar a confiabilidade dos procedimentos de leitura da corrente de emissao de campo em amostras de materiais nanoestruturados produzidos no laboratorio; ii) garantir a reprodutibilidade dos ensaios; iii) preservar a integridade das amostras; iv) eliminar fontes de erro existentes no processo de aquisicao dos dados; v) prover uma familia de curvas de forma automatizada, para cada posicionamento da amostra analisada. Os principais desafios encontrados durante os trabalhos relacionaram-se com a definicao da topologia do circuito de entrada, da forma da isolacao galvânica, inter
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