Caracterização da superficie do silicio poroso por microscopia de força atomica

TL;DRAbstract

Apos se descobrir que o silicio pode emitir luz visivel em uma condicao bem particular, ou seja, atraves de uma excitacao no estado poroso, foram feitos estudos sobre o fenomeno e se verificou que ha uma relacao da porosidade do silicio com o comprimento de onda emitido. Esta propriedade de luminescencia abre uma vasta gama de aplicacoes uma vez que o silicio e um material muito conhecido e disponivel. Este trabalho tem como proposito a uma melhor compreensao das propriedades estruturais deste material e fazer uma relacao entre os tipos de materiais obtidos com o processo de fabricacao. Para o estudo foi utilizado o microscopio de forca atomica (MFA), um equipamento especifico para a analise de superficies, e a obtencao do silicio poroso (PS) pelo processo eletroquimico. Estudou-se amostras obtidas para varias condicoes de processo e obtido o perfil do material pelas analises do MFA, permitindo com os resultados obtidos auxiliar em obter PS com caracteristicas superficiais especificas

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