Identificação de estruturas biológicas por microscopia de força atômica

TL;DRAbstract

Este trabalho tem como finalidade mostrar a importância dos diferentes modos da Microscopia de Varredura por Ponta de Prova (SPM) numa abordagem complementar para o estudo de dois diferentes sistemas biologicos. O processo de formacao de biofilmes da bacteria fitopatogenica Xylella fastidiosa (Xf) foi o primeiro sistema abordado neste trabalho. Neste caso nosso objetivo e levantar informacoes que possam complementar o modelo mais aceito atualmente e corroborar os resultados obtidos anteriormente em nosso grupo. As amostras foram preparadas sobre substratos de silicio recoberto com ouro e cultivadas durante tempos de crescimento de 7, 14 e 21 dias. O principal modo utilizado foi a Microscopia de Forca Atomica por Kelvin Probe por modulacao de amplitude (AM-KPFM) que fornece o potencial de superficie com resolucao nanometrica. Imagens por KPFM foram adquiridas simultaneamente com as de topografia e fase obtidas por Microscopia de Forca Atomica no modo nao-contato (NC-AFM). Os resultados

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